An investigation of retinal layer thicknesses in unaffected first-degree relatives of schizophrenia patients.

Kurtulmus A., Elbay A., Parlakkaya F., Kilicarslan T., Ozdemir M. H., Kirpinar I.

Schizophrenia research, cilt.218, ss.255-261, 2020 (SCI-Expanded, SSCI, Scopus) identifier identifier identifier

  • Yayın Türü: Makale / Tam Makale
  • Cilt numarası: 218
  • Basım Tarihi: 2020
  • Doi Numarası: 10.1016/j.schres.2019.12.034
  • Dergi Adı: Schizophrenia research
  • Derginin Tarandığı İndeksler: Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Social Sciences Citation Index (SSCI), Scopus, Academic Search Premier, PASCAL, BIOSIS, CINAHL, Educational research abstracts (ERA), EMBASE, MEDLINE, Psycinfo, Public Affairs Index
  • Sayfa Sayıları: ss.255-261
  • Bezmiâlem Vakıf Üniversitesi Adresli: Evet